详细内容 当前位置:首页 > 学院新闻
理学院博士研究生佘武昌、李家良参加第36届国际热电学术会议并宣读论文
发布时间:2017-08-10【告诉好友】 【关闭窗口】

730日至84日,第36届国际热电学术会议在美国洛杉矶举行。国际热电学术会议是热电领域规模最大的一次会议,世界范围的科研学者、研究生和企业界代表齐聚一堂,探讨、交流,进行学术的碰撞。本次会议由美国国家航空航天局(NASA)下属的喷气推进实验室(JPL)主办

佘武昌介绍了基于第一性原理计算方钴矿界面接头的原子迁移及对力学性能的影响。首先通过界面结合能的计算,确定了最稳定的界面原子构型,在此基础上,研究了界面的原子迁移行为,通过空位的引入,发现了界面原子迁移主要是SbTi的相互迁移。最后介绍了原子迁移对力学性能的影响,计算表明,原子迁移后,界面的理想拉伸强度有8%的下降,没有原子迁移的界面破坏机理与发生了原子迁移的界面破坏机理也不相同,前者的破坏主要是Co-Sb原子键在最后破坏导致结构失效,后者是Sb-Sb键的断裂导致界面结构失效。这其中的主要原因是原子的相互迁移对界面电子结构产生了较大影响,导致了Co-Sb原子键的弱化。

李家良介绍了电负性填充方钴矿的热电及力学性能。基于电荷补偿的原理,同时在方钴矿中填充和取代,能够提高填充和取代的效率,拓宽了填充和取代的调控范围,优化了方钴矿的热电性能。分子动力学的计算表明,晶格中Sb元素组成的四原子环键力最弱,最容易断裂破坏;大量的填充和取代,导致方钴矿晶格的变形,Sb-Sb键可能破坏,在晶粒表面形成特殊的纳米级别坑洞。该报告内容激发了现场听众的兴趣,4人提问;报告后,又有进一步的深入交流。

                                                                   (通讯员:李家良)

 

 

    

 

 

      
      
【关闭窗口】